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當前位置：首頁 >產品中心>三菱化學分析儀器>電阻率小型自動測繪系統>MCP-S330日東精工原三菱化學電阻率小型自動測繪系統
詳細介紹
| 品牌 | Nittoseiko Analytech/日東精工 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 數字式電阻測試儀 | 應用領域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,電氣 |
日東精工原三菱化學電阻率小型自動測繪系統MCP-S330專為低電阻率材料與導電薄膜的精密檢測而設計，可實現表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm）的高穩定測量，且不受試樣形狀限制。系統支持300mm×300mm樣品的二維電阻率映射分析，并可進行多片樣品連續測量，大幅提升檢測效率。通過與Loresta GX聯機使用，測量范圍覆蓋10??～10?Ω，適用于ITO透明導電膜、金屬薄膜、導電聚合物及顯示器電極基板的膜厚與成分均勻性評估。設備實現測定、數據運算、自動處理及三維圖形輸出全過程自動化，結果直觀清晰，助力研發優化與生產質量管控。
日東精工原三菱化學電阻率小型自動測繪系統MCP-S330，用于低電阻率材料的表面電阻率與體積電阻率精密測定。支持300mm角樣品映射及多片連續測量，搭配Loresta GX可覆蓋10??～10?Ω范圍。測量、運算、數據處理及三維圖形輸出全自動完成，適用于ITO薄膜、導電膜及顯示基板均勻性評估。
中能創美（北京）科技有限公司作為日東精工分析科技的合法認證一級代理商，全面負責電阻率小型自動測繪系統 MCP-S330在中國區域的銷售、培訓及技術支持。該產品采用4端子4探針法，精準測量表面/體積電阻率（Ω/□，Ω·cm），支持300mm見方樣品自動掃描與3D圖形輸出，適用于導電薄膜、金屬、ITO玻璃等材料的均勻性評估。為確保產品質量與售后服務，請通過中能創美合法渠道進行咨詢。
一、主要特點
可精密測定樣品的表面抵抗率 [Ω／□] 與體積抵抗率 [Ω·cm]，且不受樣品形狀影響。
對導電性薄膜（如導電薄膜、金屬膜、ITO薄膜等）的膜厚與成分不均一性，映射結果一目了然，便于定位與分析。
支持300 mm × 300 mm以內樣品的二維映射，也可進行多片樣品的連續測量，提高檢測產能。
可連接專用測量儀器（ロレスタGX），配合使用時測量范圍覆蓋 10?? 到 10? Ω（量程廣，適應不同電阻率層）。
測定、計算、數據處理到三維圖形輸出全部自動化，輸出結果便于報告與后續分析。
二、應用場景
顯示器基板（液晶、OLED 等）電極的一致性評估與良率管控。
導電聚合物、透明導電膜（ITO）、片材、涂層、金屬化薄膜的研發與工廠檢驗。
需要快速、可視化定位膜厚或成分局部偏差的質量控制流程。
三、使用優勢（MCP-S330賣點）
自動化測量流程減少人為誤差，數據再現性高。
映射圖與三維視圖使薄膜厚度與導電性分布問題直觀可見，便于快速判定問題來源。
小型化系統節省實驗臺空間，同時支持大尺寸樣品（至300 mm角）與批量檢測。
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 有效測量范圍 | X軸：300mm / Y軸：300mm |
| 樣品厚度 | 0～40mm |
| 探針上下移動范圍 | 約50mm |
| 定位分辨率 | X、Y軸：0.1mm |
| 重復定位精度 | X、Y軸：±0.08mm / Z軸：±0.1mm |
| 專用測繪探針 | 直列4探針，針間距可選 1.0mm、1.5mm、5.0mm |
| 樣品臺 | 白色PVC板或玻璃板，附帶X、Y軸50mm刻度標尺 |
| 樣品放置方式 | 手動放置（不支持自動傳送） |
| 接口 | USB |
| 電源 | AC100V～240V（50/60Hz），63VA |
| 外形尺寸 / 重量 | 約 543W × 492D × 410H（mm），約 22kg |
五、總結
日東精工原三菱化學MCP-S330電阻率小型自動測繪系統專為導電薄膜、金屬、ITO玻璃等材料的電阻率分布測繪設計。采用4端子4探針法，精準測量表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），不受樣品形狀影響。支持300mm見方樣品自動掃描，從測量、數據處理到3D圖形輸出全自動化。連接Loresta GX電阻率計，可覆蓋10??至10??Ω寬量程，直觀呈現膜厚與組成均勻性，廣泛應用于研發、品控與生產現場。
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